同位体顕微鏡（どういたいけんびきょう）とは試料の同位体の二次元的な分布を画像化する顕微鏡。
概要
二次イオン質量分析器の一種でイオンを照射して生じた試料表面のイオンを質量分析器に送り、同位体を計測する。
用途
岩石等の試料の同位体の分布、同位体比の変化から年代測定により結晶の成長速度、成長方向等がわかる。
脚注
参考文献
- 圦本尚義. "同位体顕微鏡-全地球ダイナミクスを診る次世代分析装置." 科学 67 (1997): 560-566.
- 圦本尚義、「同位体顕微鏡 高感度2次元イオン検出による結像型SIMS」『顕微鏡』 2006年 41巻 2号 p.134-137, doi:10.11410/kenbikyo2004.41.134
- 圦本尚義、「同位体顕微鏡で覗く太陽系の起源」『金属』 2008年 78巻 11号 p.1024-1028、アグネ技術センター
- 圦本尚義, 坂本直哉「隕石中に閉じ込められた太陽系形成当時の化石を同位体顕微鏡で捜す」『顕微鏡』第47巻第2号、日本顕微鏡学会、2012年、92-97頁、doi:10.11410/kenbikyo.47.2_92、ISSN 1349-0958、NAID 10030794089。
- 小笠原希実、「植物組織・細胞内の元素を直接観る －二次イオン質量分析法および同位体顕微鏡を中心として－」『PLANT MORPHOLOGY』 2014年 26巻 1号 p.13-17, doi:10.5685/plmorphol.26.13
- 馬上謙一、「北海道大学の同位体顕微鏡」『Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan』 2016年 64巻 5号 p.219-221, doi:10.5702/massspec.S16-32
関連項目
- 顕微鏡
- SHRIMP - オーストラリアで開発された同位体顕微鏡
- 集束イオンビーム
